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博客 · XRF指南

XRF 黄金分析是如何工作的?

XRF(X 射线荧光)是一种在不损伤饰品的前提下,测量其中元素及其比例的分析方法。本文用通俗的语言介绍这种方法的物理原理、结果的计算方式,以及珠宝商需要了解的局限。

最近更新: 2026年10月14日阅读约5分钟

XRF 是什么意思?

XRF 是英文 X-ray fluorescence(X 射线荧光)的缩写。它是一种无损分析技术,广泛用于金属、玻璃、陶瓷和岩石等多种材料的元素分析。12 在珠宝行业,要回答的问题很简单:这件饰品里有哪些金属,每种各有多少?XRF 通过测量饰品中的原子对 X 射线的响应来回答这个问题。

方法名称中的“荧光”,是指物质把吸收的能量以其特有的射线形式重新释放出来。在 XRF 中,这种射线同样是 X 射线;负责捕捉并计数它的,是设备内部的探测器。2

原子内部发生了什么?

设备射线管发出的 X 射线照射到饰品上时,会把原子内层轨道(K 层和 L 层)上的部分电子击出原位。空出的位置由更外层轨道上的电子填补。这一跃迁中释放的能量以新的 X 射线形式向外发射。12

这种射线的能量是发射它的原子种类所特有的。因此,根据射线的能量就可以判断它来自哪种元素。12 例如,金在 9.71 keV 发出射线,银在 22.16 keV 发出射线。3

1激发射线管发出的 X 射线到达饰品中的原子。
2空位原子内层轨道上的一个电子被击出原位。
3回填外层轨道上的一个电子填补空位,并将两者之间的能量差以 X 射线的形式发射出来。
4识别发射射线的能量表明是哪种元素,射线的数量表明该元素所占的比例。

K 数和成色如何计算?

按分离射线的方式,XRF 设备分为两类。在能量色散型(energy-dispersive)设备中,探测器既捕捉每一条入射射线,又测量其能量;分离和计数在同一过程中完成。2 探测器中产生的电荷与入射射线的能量成正比,因此每条射线都会被记入正确的能量通道。2

另一类是波长色散型(wavelength-dispersive)设备,射线在到达探测器之前先经晶体衍射而分离。2 两类设备依据的原理相同:每种元素以各自特定的能量发出射线,这些射线的数量表明该元素所占的比例。

来自某一元素的射线强度与该元素在饰品中的含量成正比。这一比例的确切数值,通过与成分已知的参考样品进行比较来确定,这称为校准。12 软件借助校准把每种元素的计数换算为百分比。知道了金的百分比,就可以直接算出 K 数和成色:若 1000 份中有 750 份是金,结果就是成色 750,即 18K。

阶段发生了什么在结果中的体现
激发X 射线击出原子的内层电子测量开始
荧光每种元素以各自特定的能量发出射线含有哪些元素
计数探测器按能量对射线计数每种元素的信号量
校准将计数与已知样品进行比较元素百分比、K 数和成色

XRF 的局限:珠宝商需要了解的事项

  • 测量的是表面。荧光射线主要来自饰品的表层;对轻元素而言,这一深度仅有几微米。2 XRF 测量的是表面:若为薄镀层,其下的基底金属(如铜、锌)会出现在结果中,从而揭示镀层。如怀疑存在厚镀层或填充,请在饰品多个位置进行测量;可能需要进行破坏性检测。3
  • 校准取决于材料。一套校准只适用于一定范围的材料;饰品的成分和结构会影响计数。2
  • 极轻元素难以测量。比钠更轻的元素通常难以定量测量。2 金合金中需要测定的金属(如金、银、铜、锌)都比这重得多。

用 PURIX X1 进行一次测量

PURIX X1 是配备 Si-PIN 探测器的台式 XRF 黄金分析仪。它测出黄金中多达 20 种元素的含量,且不损伤饰品;无需切割,无需试金石,无需酸液。3

1放置将样品放在样品仓内的测量窗口上。
2启动合上机盖,点击 START。
3测量X 射线管从下方向饰品发射 X 射线。每种元素以各自特定的能量发出射线。
4结果探测器对这些射线计数,软件将其换算为比例。K 数、成色及全部 20 种元素在 30–60 秒内显示在屏幕上。

常见问题

XRF 会损伤黄金吗?

不会。XRF 是一种无损方法;测量时无需切割、刮擦或酸蚀。

XRF 能看到黄金内部吗?

不能。XRF 测量的是表面。如怀疑存在厚镀层或填充,请在饰品多个位置进行测量;可能需要进行破坏性检测。

XRF 如何确定 K 数?

它先测量每种元素的百分比,再由金的百分比算出成色和 K 数。例如,成色 750 相当于 18K。

为什么校准很重要?

探测器计数的射线量,只有与成分已知的样品进行比较后,才能换算为百分比。这种比较称为校准。

所有数值均在制造商测试条件下测得,可能因样品形状和表面而异。

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